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Prof. Dr. Sule Ozev: Extraktion von RF Sender/Empfänger Parametern durch Loop-back BISTIn diesem Vortrag spricht Dr. Ozev über die kostengünstige Extraktion der Parameter eines RF Sender/Empfänger durch eingebauten Selbsttest. Die Testkosten für einen RF Sender/Empfänger Tests sind überproportional hoch, da viele unterschiedliche Parameter erfasst werden müssen und eine dedizierte Testaustattung erforderlich ist. Um die Testkosten zu verringern, kann man die Sender/Empfänger Paare im Loop-back Modus einsetzen. Hieraus ergeben sich jedoch neue Probleme bei der Fehlerbalancierung. In diesem Vortrag wird ein Lösungsansatz zu diesem Problem basierend auf Signalverarbeitungstechniken diskutiert. CV Professor Ozev erhielt ihren Ph.D. an der University of California, San Diego 2002. Seither arbeitet sie an der Duke University, Electrical and Computer Engineering Department. Sie ist Mitglied im Programmausschuss des IEEE VLSI Test Symposium, der IEEE International Test Conference, der IEEE Design Automation Conference und vielen anderen Konferenzen. Ihre Forschungsinteressen umfassen RF/analog Test und Analyse von Prozessvariationen. Falls dieser Text Formeln enthält, die nicht dargestellt werden können, finden Sie hier die dvi- bzw. die pdf-Version. |
HV